十四年前展開轉型，從記憶體做到微機電，從兩度虧損到穩健財務，京元電董事長李金恭用自製設備機台、拓展新產品線，讓全球半導體客戶都下單給它做測試，站穩台灣半導體測試龍頭地位。
攤開京元電近一年的營運成績單，就知道李金恭為什麼這麼急著蓋新廠房，今年前三季累計稅後每股純益（ＥＰＳ）是一‧七一元，已超越去年一整年的一‧五三元，第三季獲利甚至創下十年來單季新高。
來自聯發科、賽靈思、恩智浦、意法半導體等大廠的檢測訂單，填滿京元電的產線，「所以，我們連銅鑼廠三期、四期的土地都準備好了。」李金恭對國際整合元件大廠委外的訂單成長很有信心，還提早將土地承租下來，他笑說：「我這幾年的第一時間敏感度，很強。」
憑著李金恭對產業嗅覺與努力，只有檢測業務的京元電能擠進全球封測產業前十名排行榜，還是台灣最大的測試廠。「積極跨入邏輯晶片，加上資本支出與擴產動作謹慎，都是京元電營運表現穩定的關鍵因素。」瑞銀證券前半導體分析師程正樺，評價京元電的策略。
然而，令人難以想像的是，十四年前，京元電曾為了ＤＲＡＭ測試業務，大舉投資一百億元，買進記憶體測試機台，就為搶搭記憶體擴產風潮，卻遇上史上最大的虧損。
韓商低價競爭 網通泡沫首度虧損
韓商低價競爭 網通泡沫首度虧損
那是二○○○年的事了，李金恭回憶，當時千禧年科技業景氣大好，記憶體供不應求，他大膽投資百億元，採購記憶體測試機台，結果隔年網通泡沫破滅，業績一落千丈，也是在那一年，京元電股票掛牌上市，只能連續三次調降財測，股東每天打電話來開罵。
當時，京元電會由盈轉虧，關鍵就是占七成業務的大客戶世界先進，敵不過來自韓商嚴酷的低價競爭，最後時任世界先進董事長張忠謀黯然宣布退出記憶體市場，已買了一大堆測試機台的京元電成最大苦主。
那是第一次，考驗京元電的生存力，不僅出現掛牌以來首次虧損，一虧就是兩年，對獲利績優生的京元電來說，從未有過。李金恭思考良久，心想未來記憶體將是韓商天下，沒把握與韓商硬碰硬的他，只能決定加強邏輯ＩＣ投資比重，逐步降低記憶體的生產比重。
好不容易，京元電獲利在○四年開始回穩，營收規模突破百億元，每股獲利也回到三．六九元的高水準，李金恭又做了大舉投資的決策，結果，隔年景氣反轉，居然又把京元電打回虧損窘境。
遇景氣重挫又虧損 訂現金水位鐵律
遇景氣重挫又虧損 訂現金水位鐵律
原來，○三年歷經ＳＡＲＳ風暴，半導體景氣休養生息，在○四年景氣快速回升、訂單大舉回籠，京元電大幅增加機台後，○五年第一季景氣又急轉直下。短短五年內，京元電遇到兩次大考驗，讓李金恭痛下決心，「公司體質要強健，一定不能躁進，要先求穩健經營。」
李金恭下令財務部主管，訂下鐵律：「京元電任何時刻的現金水位，都要有兩年的水位，意思就是，即使公司未來兩年都沒有收入，也照樣能發薪水、存活下來。」
即使部分內部主管曾認為，這項鐵律有點保守過頭。但就是現金存活水位的原則，○八年金融海嘯來襲，多數半導體同業撐不住，只能繳出赤字虧損，京元電卻因提早因應，加上現金準備充裕，一路擴充新竹、竹南、銅鑼到大陸蘇州等地廠房，逐年成長至今。
李金恭徹底執行這項財務鐵律，看看京元電每季報表的約當現金水位，都介於六十至八十億元之間。但只有財務穩健是不夠的，京元電還有一項有別於同業的競爭利器，那就是測試機台自製策略。
「ＩＣ測試業是幫客戶測試ＩＣ，測完就把晶片還給客戶，特色是不需要材料，最大的營運成本就是機台設備的折舊，所以，若可自行開發測試設備，並降低折舊，就是我們的競爭力關鍵。」李金恭分析。
目前京元電總計有七百餘台測試機台，其中二百餘台是自行開發，比率約三成左右。京元電企畫處處長張垂欽說，目前自行開發的機台屬中低階，不外賣只供內部自己使用。
自行開發機台除可降低成本外，還能快速因應市場變化。張垂欽說，現在景氣變化太快，客戶訂單及產品種類隨時在調整，自行開發的設備可馬上調整軟硬體，成了京元電最大競爭利基。
另一方面，京元電也著手拓展新產品線。一年前，為了接下一家國際大廠的MEMS（微機電）檢測訂單，李金恭在銅鑼一廠地下室打造一間祕密基地，因這個客戶的產品檢測需求和其他客戶很不一樣，它對於聲音要求特別嚴格，這個大客戶就是專精於麥克風元件的博世（Bosch）集團。
「你知道測試麥克風MEM S元件，測試環境的聲音不能超過六十分貝。」李金恭笑說，為了它，京元電特別規畫空間，建立專用廠房，進行硬體設備客製化。
為做好這項業務，李金恭特別開設「聲音學」課程，讓團隊了解客戶的產品與需求。平常喜歡吹薩克斯風紓壓的李金恭開玩笑說，「一開始還以為課程是聲樂課呢！」正是這樣的準備與投入，京元電成功爭取到這個國際級客戶，讓京元電 MEMS營收比重達到一○％。
從記憶體、邏輯ＩＣ到M EMS，李金恭帶著京元電走出兩次虧損生存戰，將客戶群從台灣擴展到全世界，也難怪京元電能喜迎十年獲利新高，穩坐台灣最大檢測廠地位。
京元電
成立：1987年
負責人：李金恭
資本額：119億元
主要業務：晶圓測試、IC測試
